日本システムウエアと日本工営は、東京理科大学理工学部土木工学科小島研究室の特許を利用し、ひび割れ点検支援システム「VIS＆TFC」を開発したとの事です。


VIS＆TFCの概要ですが、プレスリリースによると、錯視を誘発する画像処理によりひび割れを強調表示するシステム「VIS」と、画像の特徴を分類・解釈する「TFCアルゴリズム」の機能を組み合わせたシステムなのだそうです。

これまで複数のソフトで行っていた画像鮮鋭化処理をPC画面上で瞬時に行うことが可能で、例えば、対象インフラを撮影した映像や画像に強調処理を施し、ひび割れの深さや表面のざらつきの度合を色分け表示することで、技術者の目視判定を支援する。

また、検出したひび割れ領域・テクスチャ特徴領域内の深さ情報を可視化して、ひび割れ状態の確認が容易に確認出来るそうです。


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出典：日本システムウェア


幅0.2�个箸い辰身�細なひび割れを強調表示し、目視検査の負荷軽減、迅速な検査を可能にするので、今まで技術者が目視で判定していた負担が少なくなるようです。

最近、ひび割れ調査の新技術が増えてきている印象です。